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運(yùn)行調(diào)試的時(shí)候要注重標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和外表粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

側(cè)頭與試樣表層保持垂直。丈量的時(shí)候要注重。

假如大于這個(gè)厚度丈量就不受基體金屬厚度的影響。運(yùn)行調(diào)試的時(shí)候要注重基體金屬的臨界厚度。

丈量的時(shí)候要注重試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表層上測(cè)量時(shí)不可靠的

假如會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。丈量前要注重四周其他電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場。

因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表層外形的忽然變化很敏感。丈量時(shí)要注重不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量。

否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。丈量時(shí)要保持壓力的恒定。

因此超聲波測(cè)厚儀在運(yùn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。運(yùn)行調(diào)試的時(shí)候要注重儀器測(cè)頭和被調(diào)試件的要直接接觸。