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電腦膜層(漆膜)測(cè)厚儀的更新

2014-01-14

電腦膜層(漆膜)測(cè)厚儀發(fā)展概述

厚度測(cè)量是涂鍍層物性檢測(cè)的重要項(xiàng)目之一,伴著新型工程材料開發(fā),微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)展,電腦膜層(漆膜)測(cè)厚技術(shù)近幾年來在國(guó)內(nèi)外得到迅速發(fā)展。與此同時(shí),采取多種原理,應(yīng)用范圍廣泛,有較高科技含量,日趨智能化的各類電腦膜層(漆膜)測(cè)厚儀相繼問世,有力地推動(dòng)了工程物理檢測(cè)的發(fā)展。與*技術(shù)和同類產(chǎn)品相比,目前我國(guó)涂鍍層測(cè)厚技術(shù)在總體上相當(dāng)于*工業(yè)國(guó)家19世紀(jì)90年代初期水平,面對(duì)入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn),我們當(dāng)奮起直追,增強(qiáng)參與競(jìng)爭(zhēng)的適應(yīng)力和創(chuàng)新意識(shí),搶抓機(jī)遇,努力實(shí)現(xiàn)測(cè)厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。

電腦膜層(漆膜)測(cè)厚儀開發(fā)日趨智能化

回顧電腦膜層(漆膜)測(cè)厚儀技術(shù)發(fā)展的歷史沿革,集中表現(xiàn)為以下技術(shù)特征:

  • 電路設(shè)計(jì):電子管—晶體管—集成電路—芯片L模塊化。
  • 整機(jī)功能:?jiǎn)危ㄔ恚┕δ苄?mdash;具有部分統(tǒng)計(jì)功能型—雙原理通用型—智能型。
  • 探頭制式:主機(jī)探頭分離式—主機(jī)與探頭一體式(內(nèi)置式探頭)—主機(jī)配多規(guī)格探頭(可供選擇更換)。
  • 量值顯示:機(jī)械式(千分表)—表頭指針式—液晶數(shù)字式—數(shù)據(jù)打印式(外接或內(nèi)置)。

總結(jié)

在*工業(yè)國(guó)家,電腦膜層(漆膜)測(cè)厚儀技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)已自成體系,而且有多種規(guī)格的涂鍍層測(cè)厚儀可同時(shí)兼顧雙重原理,滿足多項(xiàng)試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求,因而大大地拓展其應(yīng)用領(lǐng)域。也為我國(guó)采用*技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),推動(dòng)國(guó)產(chǎn)儀器更新?lián)Q代提供了借鑒與參考。

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