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WSY60-4美國(guó)GE帶塑料楔塊縱波斜探頭的詳細(xì)資料

美國(guó)GE帶塑料楔塊縱波斜探頭WSY45-2 WSY60-2 WSY70-2  WSY60-4

接觸法探頭

直射線---單晶

•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•接觸面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•透透厚部件

•逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂

直于表面的聲束探測(cè)

•近表面分辨率好，用于較薄部件

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

•有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•有單晶探頭和雙晶探頭

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)2個(gè)換能器選擇標(biāo)準(zhǔn)和性能

接觸式和水浸式接觸法探頭

直射線---單晶

•被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•接觸面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•透透厚部件

•逐步塊改善提高近場(chǎng)分辨率

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•近表面分辨率好，用于較薄部件

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上

•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

•有所傾斜的缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•有單晶探頭和雙晶探頭

•需要聚合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊

•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)2個(gè)換能器選擇標(biāo)準(zhǔn)和性能

直探頭

分辨率和增益是探頭的決定性指標(biāo)。這就是存在各種不同型號(hào)探頭的原因：F系列的

G…脈沖波探頭，分辨率（阻尼非常高），而K…探頭的增益是最高的。

該探頭不僅僅具有這些基本性能，這些探頭之所以是很好的探頭，是因?yàn)樗鼈冞€具備：

· 對(duì)高阻尼材料具有很強(qiáng)穿透力

· 對(duì)散射嚴(yán)重的材料具有很高的信噪比

· 對(duì)一定角度的缺陷也具有很高的靈敏度

· 對(duì)粗糙表面工件仍具有很好的耐磨性

· 帶塑料把手的輕金屬外殼符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)要求

· 同一型號(hào)探頭的檢測(cè)結(jié)果一致性好

高分辨率

如果你對(duì)分辨率要求很高，那么G…脈沖波探頭的選擇！這種探頭的阻尼非常高，脈沖短，僅取決于始脈沖的波形。當(dāng)用尖脈沖觸發(fā)時(shí)，脈沖波為3個(gè)半波長(zhǎng)。當(dāng)用階躍脈沖觸發(fā)時(shí)，脈沖波為2個(gè)半波長(zhǎng)。當(dāng)超聲儀器的阻尼與探頭阻尼匹配時(shí)能達(dá)到這種效果。

高靈敏度

如果你對(duì)靈敏度要求很高，當(dāng)檢測(cè)很厚的工件或電噪聲非常大時(shí)，K…探頭是您的選擇。這種型號(hào)探頭的壓電晶片都是經(jīng)過(guò)精心挑選，能達(dá)到很高的分辨率和靈敏度。例如，K2G探頭能檢測(cè)細(xì)晶粒鋼的范圍最大為4m，靈敏度為2mm的平底孔，聲阻抗忽略不計(jì)。

檢測(cè)范圍大

G…探頭因?yàn)槊}沖短，近場(chǎng)分辨率非常高，并且能夠檢測(cè)近表面的缺陷。

寬脈沖（包含了大量低頻信號(hào)）對(duì)高阻尼材料具有很好效果，頻率低，具有很強(qiáng)的穿透力，對(duì)很厚的工件能得到很強(qiáng)的回波幅度。

如果使用窄脈沖探頭，對(duì)一個(gè)工件需要用兩種不同頻率的探頭分別檢測(cè)。用高頻探頭檢測(cè)近表面的缺陷，用低頻探頭檢測(cè)更深的范圍。