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奧林巴斯探頭的詳細資料

?奧林巴斯可更換延遲塊的測厚探頭

我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。

擁有40多年探頭研制經驗的OlympusNDT已經開發(fā)了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測

量及材料分析等特殊應用的各種各樣的定制探頭。

優(yōu)勢• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。• 較高的探頭頻率提高了分辨率。• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現細小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用• 測厚。• 垂直聲束缺陷探測。• 對接觸區(qū)域有限的工件進行檢測。

sonopen可更換延遲塊探頭

• 聚焦的可更換延遲塊。•直徑極小的特點可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。

• 手柄可以方便探頭頭部的定位。

頻率   晶片尺寸        標稱           探頭 

MHz    英寸     毫米   平直手柄   直角手柄   45° 手柄

15    0.125     3    V260-SM   V260-RM    V260-45

SLH-V260-SM*裝有彈簧的支架，*僅與V260-SM一起使用

帶有手柄組合件的延遲塊探頭這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進行探測，如：相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉的頭部提高了其在狹小區(qū)域接觸被測工件的能力。

頻率    標稱    延遲塊長度   探頭工件編號 

      晶片尺寸

MHz    英寸   毫米   微秒 

20     0.125   3    1.5     M2054           

20     0.125  3    4.5     M2055

20     0.125  3    4.0     V2034

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