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V220奧林巴斯超聲波探頭 單晶接觸式延遲探頭的詳細(xì)資料

?奧林巴斯探傷儀探頭 單晶接觸式延遲探頭

介紹

GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用程序的用戶提供廣泛的服務(wù)。

我們的使命是匯聚來(lái)自多個(gè)行業(yè)和模式的全球知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，以幫助客戶迅速解決他們的檢查應(yīng)用問(wèn)題。

憑借出色的業(yè)績(jī)記錄，我們經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師，技術(shù)人員和專家是客戶的重要資產(chǎn)。他們的經(jīng)驗(yàn)豐富，涵蓋了許多NDT模式和許多行業(yè)領(lǐng)域-從射線照相技術(shù)的發(fā)展定制渦流設(shè)計(jì)的解決方案，用于檢查生產(chǎn)車間的航空航天零件用于電力，石油，天然氣和汽車行業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)檢查的探頭。

新材料，制造工藝和連接技術(shù)通常需要定制的配件，專為特定應(yīng)用而設(shè)計(jì)。我們提供各種特殊應(yīng)用的傳感器，其中一些顯示在這些頁(yè)面。我們的特殊團(tuán)隊(duì)已準(zhǔn)備就緒，可以快速，有效地解決新的應(yīng)用問(wèn)題。

探頭選擇規(guī)范與性能

本目錄中掃描分為兩大類：接觸式和水浸式

接觸式檢驗(yàn)方法

直梁—單個(gè)元素

•具有規(guī)則幾何形狀的零件和相對(duì)光滑的接觸面

•平坦或彎曲的接觸面

•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測(cè)到垂直于表面的光束

•用于厚實(shí)的滲透

欄目

•延遲線類型改善了近地表解析度

•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊劑

•通常用于手動(dòng)檢查直光束-雙元素（TR）

•發(fā)送和接收元素被串?dāng)_隔離

•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測(cè)到垂直于表面的光束

•適合薄型表面，近表面解析度

•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊

•通常用于手動(dòng)檢查角鋼

•元件安裝在一體式或可更換的楔子

•使用折射來(lái)傳遞剪切力或縱波在預(yù)定角度

•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)換能器產(chǎn)生通過(guò)模式轉(zhuǎn)換得到的橫波

•用于傾斜零件缺陷，例如焊縫

•提供單元素和雙元素類型

•需要耦合劑層，通常是凝膠，油或糊劑

•有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化測(cè)試

浸入式傳感器

•聲學(xué)匹配水效率

•適用于不規(guī)則零件幾何形狀

•常用于機(jī)械化或自動(dòng)化測(cè)試

•方法，以實(shí)現(xiàn)一致的耦合和可重現(xiàn)的結(jié)果

•大型零件可以使用探頭支架，鼓泡器或水射流

•換能器可專注于改進(jìn)結(jié)果

聚焦浸入式傳感器

•球形焦點(diǎn)形成一個(gè)點(diǎn)或點(diǎn)

•圓柱焦點(diǎn)形成一條線集中優(yōu)勢(shì)球形（點(diǎn)）重點(diǎn)圓柱（線）

重點(diǎn)

提高對(duì)小缺陷的敏感性提高近表面分辨率修正輪廓表面提高信噪比

這種單晶接觸式探頭可在未轉(zhuǎn)換折射波模式的情況下將橫波直 接射入到被測(cè)工件中。

優(yōu)勢(shì)

• 生成可垂直于檢測(cè)面?zhèn)鞑サ臋M波。• 為了方便對(duì)齊，橫波極性的方向名義上與直角連接器呈一條 直線。• 縱波與橫波分量的比率一般在-30 dB以下。

應(yīng)用

• 橫波聲速測(cè)量。• 楊氏彈性模量和剪切模量的計(jì)算。• 材料顆粒結(jié)構(gòu)的特性鑒定。

延遲塊系列

• 整合型延遲塊可以使測(cè)量在高頻下進(jìn)行。• 熔融石英延遲塊

• *大程度地降低了衰減性，并為晶片提供了物理意義上的保護(hù)。

型號(hào)規(guī)格如下: